Kính hiển vi điện tử quét chùm tia ion tập trung FIBSEM | DB500

    Kính hiển vi điện tử quét chùm tia ion tập trung FIBSEM | DB500

    Liên hệ VND
    FIBSEM DB500
    CIQTEK DB500 là Kính hiển vi điện tử quét phát xạ trường (FE-SEM) với cột chùm tia ion tập trung (FIB) để phân tích nano và chuẩn bị mẫu vật, được áp dụng công nghệ “SuperTunnel”, quang sai thấp và thiết kế thấu kính mục tiêu không có từ tính, với khả năng điện áp thấp và độ phân giải cao đảm bảo khả năng phân tích ở quy mô nano. Cột ion tạo điều kiện cho nguồn ion kim loại lỏng Ga+ có chùm ion chất lượng cao và ổn định cao để đảm bảo khả năng chế tạo nano.

    Nhận giá mới nhất? Chúng tôi sẽ phản hồi sớm nhất có thể (trong vòng 12 giờ)

    Gửi tin nhắn