Ưu điểm kính hiển vi tia X – Xradia Versa
· Cho phép quan sát bên trong mẫu bằng cách chụp ảnh cắt lớp mà không cần phá hủy mẫu.
· Chế độ Scout-and-Scan giúp quét và định vị mẫu nhanh, chỉ bằng 1 cú nhấp chuột.
· Tính năng SmartShield giúp bảo vệ mẫu dựa trên kích thước mẫu nhập vào.
· Sử dụng công nghệ RaaD (Resolution at a Distance) cho hình ảnh có độ phân giải cao ngay cả ở khoảng cách làm việc lớn.
· Kính hiển vi tia X đơn giản hóa việc chuẩn bị mẫu khi thao tác vì tia X có thể xuyên qua hầu hết các vật thể.
· Hình ảnh có độ phân giải rất cao và không bị ảnh hưởng bởi ánh sáng nhiễu xạ, do bước sóng của tia X ngắn hơn nhiều so với bước sóng của ánh sáng nhìn thấy.
Chế độ trường rộng cho phép quan sát các mẫu lớn với độ phân giải cao